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精确的镀层和珠宝分析
X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。
X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用，软件直观，可由非专业人员操作，并可轻松融入您的生产或质量保证部门。
产品亮点
X-Strata920 具有多种选项和多功能性，可容纳各种样品，每次都能提供精确的分析。
·适应性设计，可对各种产品进行可靠分析
·自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
·直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
·多准直器设计为每个样品提供高准确性
·选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
·符合行业规范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
·简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果
·强大的光学分析单层和多层镀层，包括合金层
型号 | X-Strata920（正比计数器） | X-Strata920（硅漂移探测器） |
元素范围 | Ti - U | Al - U |
样品舱设计 | 开槽式 | 开槽式 |
XY 轴样品台 | 固定台、加深台、自动台 | 固定台、加深台、自动台 |
最大样品尺寸 | 250 (宽)×200 (深)×50 (高) mm | 250 (宽)×200 (深)×50 (高) mm |
最大准直器数 | 6 | 6 |
最大滤光片数 | 3 (secondary) | n/a |
最小准直器 | 0.01 × 0.25 mm (0.5 × 10 mil) | 0.01 × 0.25 mm (0.5 × 10 mil) |
最大样品台行程 | 178 × 178 mm | 178 × 178 mm |
SmartLink 软件 | ✓ | ✓ |
