X-Strata920 灵活多用途的台式XRF镀层测厚仪

精确的镀层和珠宝分析

      X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。

      X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用，软件直观，可由非专业人员操作，并可轻松融入您的生产或质量保证部门。

产品亮点

       X-Strata920 具有多种选项和多功能性，可容纳各种样品，每次都能提供精确的分析。

       ·适应性设计，可对各种产品进行可靠分析

       ·自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度

       ·直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易

       ·多准直器设计为每个样品提供高准确性

      ·选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)

      ·符合行业规范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

      ·简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果

      ·强大的光学分析单层和多层镀层，包括合金层